[发明专利]信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质有效

专利信息
申请号: 202210375705.6 申请日: 2022-04-11
公开(公告)号: CN114443400B 公开(公告)日: 2022-08-02
发明(设计)人: 杨培宇;杜艳;王兴珍;王家兴;陈才 申请(专利权)人: 飞腾信息技术有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22;G06F11/263;G06F13/40;G06F13/42
代理公司: 北京布瑞知识产权代理有限公司 11505 代理人: 骆宗力
地址: 300450 天津市滨海新*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 本说明书提供了一种信号测试方法、装置、片上系统、电子设备及存储介质,其中,所述信号测试方法在PCIe总线系统物理层的目标缓存区域中,基于经过所述物理层处理前后的待测试信号(即第一信号和第二信号),获取表征所述待测试信号质量的测试信息,实现在PCIe总线系统内部对待测试信号质量进行测试的目的。利用本说明书提供的信号测试方法进行信号质量测试,一方面不会妨碍待测试信号正常通过物理层,无需因为信号测试而中断正常信号传输,有利于提高测试和使用效率,为实现实时的信号测试奠定了基础。另一方面,由于该方法无需外接测试设备,简化了信号测试步骤,提高了测试效率,而且有利于降低信号测试所需的硬件成本。
搜索关键词: 信号 测试 方法 装置 系统 电子设备 存储 介质
【主权项】:
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