[发明专利]一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置在审
| 申请号： | 202210404986.3 | 申请日： | 2022-04-18 |
| 公开（公告）号： | CN114742846A | 公开（公告）日： | 2022-07-12 |
| 发明（设计）人： | 邱钧;刘畅;刘天艺;何迪 | 申请（专利权）人： | 北京信息科技大学 |
| 主分类号： | G06T7/11 | 分类号： | G06T7/11;G06T7/194;G06T7/50 |
| 代理公司： | 北京汇智胜知识产权代理事务所(普通合伙) 11346 | 代理人： | 赵立军 |
| 地址： | 100192 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于空角一致性光场抠图评价方法及装置，其包括：步骤1，提取光场数据的中心子孔径图像；步骤2，计算光场数据的视差图和光场数据中心子孔径图像alpha图；步骤3，对中心子孔径图像alpha图进行传播，获取光场alpha图；步骤4，通过在空间域获取的空角一致性评价指标S‑cons，对光场alpha图中的光场数据空角一致性进行评价：指标S‑cons取值范围在(0‑1)，指标S‑cons越接近1，代表边界区域方差越小，光场数据的空角一致性越好，指标S‑cons越接近0，光场数据的空角一致性越差。通过采用本发明提供的方法，可以实现准确且具有一致性的光场抠图并评估其空角一致性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 一致性 光场抠图 评价 方法 装置 | ||
【主权项】：
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