[发明专利]制造半导体装置的方法及应用于其的制造腔室与导流板在审

专利信息
申请号: 202210426613.6 申请日: 2022-04-22
公开(公告)号: CN116200725A 公开(公告)日: 2023-06-02
发明(设计)人: 郑光伟;黄宋儒;刘勇村;李志聪;倪其聪 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: C23C16/44 分类号: C23C16/44;C23C16/455;C23C16/30;H01L21/02;H01L21/67
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 王素琴
地址: 中国台湾新竹科*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种制造半导体装置的方法包括:将一个或多个半导体晶圆装载到工艺腔室内提供的多个站中;将工艺应用于半导体晶圆其中沉积应用于材料上的一个或多个半导体晶圆内的工艺腔室;和清洗工艺腔室。适宜地,清洗和工艺腔室包括将清洗气体流向工艺腔室,流向布置在工艺腔室中的导流板,导流板具有第一表面,流动的清洗气体撞击在第一表面上,第一表面引导流动清洗气体的第一部分以第一轨迹撞击其上朝向工艺腔室的第一端并且引导流动清洗气体的第二部分以第二轨迹撞击其上朝向工艺腔室的第二端,第二端与第一端相对。
搜索关键词: 制造 半导体 装置 方法 应用于 导流
【主权项】:
暂无信息
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