[发明专利]一种波环阻值测量设备的结构在审

专利信息
申请号: 202210472064.6 申请日: 2022-04-29
公开(公告)号: CN114814362A 公开(公告)日: 2022-07-29
发明(设计)人: 陈建平;闫朝旭 申请(专利权)人: 苏州启航电子有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 代理人: 王熙文
地址: 215000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种波环阻值测量设备的结构,包括下治具和上治具,下治具设有下凹台阶,上治具设有与下凹台阶配合的下凸结构,下凹台阶的外边缘设有下导电块,下凸结构的底部边缘处设有上导电块,上导电块和下导电块错位设置,上导电块与上PCB板连接,下导电块与下PCB板连接。上下治具合模,下凸结构的边缘伸入波环中并且作用于内凸点,使内凸点外移,内凸点两侧的折弯处与下导电块接触,与两块PCB板连接的电阻测量仪能够测出波环上相邻点位之间的电阻。
搜索关键词: 一种 阻值 测量 设备 结构
【主权项】:
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