[发明专利]芯片动态功耗测试系统及方法在审
| 申请号： | 202210553120.9 | 申请日： | 2022-05-20 |
| 公开（公告）号： | CN115113019A | 公开（公告）日： | 2022-09-27 |
| 发明（设计）人： | 王栋;窦志军;王赟;王于波;胡晓波;魏斌;成嵩 | 申请（专利权）人： | 北京智芯半导体科技有限公司;北京智芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R13/02;G01R19/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 陈潇潇 |
| 地址： | 102200 北京市昌平*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供一种芯片动态功耗测试系统及方法，属于芯片评价技术领域。所述系统包括：测试设备，用于作为测试芯片的工作电源，以及控制所述测试芯片执行预设测试算法；示波器，所述示波器的第一端口通过电流探头与测试芯片的电源通道连接，第二端口与所述测试芯片的I/O管脚连接，所述示波器用于采集所述测试芯片执行所述预设测试算法过程中的功耗信息；所述电流探头，用于采集所述测试芯片执行预设测试算法过程中的电流信号。本发明方案搭建了一套简单、易用、易实现的、可自动化获取安全芯片算法动态功耗结果的测试环境。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 动态 功耗 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
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