[发明专利]一种存储设备及其测试方法、测试系统在审
| 申请号： | 202210581391.5 | 申请日： | 2022-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN114974389A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 陈剑锋 | 申请（专利权）人： | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12;G11C29/44 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 吴向青 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储设备的测试方法，至少包括：提供一存储设备，并根据存储信息的种类，在存储设备中建立数据区域、系统块区域和坏块表映射区域；对数据区域进行第一读写测试，并根据第一读写测试的结果，在数据区域中建立第一坏块区域和工作块区域；调节存储设备的时序信息，并获取工作块区域的读写错误信息，根据读写错误信息，重复调谐存储设备的读写参数信息；根据读写参数信息，对工作块区域和系统块区域进行第二读写测试，并根据第二读写测试的结果，在工作块区域和系统块区域内标记出第二坏块区域；以及获取第一坏块区域和第二坏块区域的坏块信息，并将坏块信息记录于坏块表映射区域。本发明能够快速且稳定地筛选出存储设备中的坏块。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 设备 及其 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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