[发明专利]一种芯片功能调试系统在审
| 申请号： | 202210583277.6 | 申请日： | 2022-05-25 |
| 公开（公告）号： | CN114968691A | 公开（公告）日： | 2022-08-30 |
| 发明（设计）人： | 刘琳童;陈晓杰;黄雄科 | 申请（专利权）人： | 深圳智微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26;G06F11/22 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人： | 吴敏 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区西丽街*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种芯片功能调试系统，属于芯片设计技术领域。本发明通过设置至少一组调试单元，对待调试芯片中选取任意模块作为调试节点，利用该调试单元的同步打包模块对调试节点中的数据进行同步打包，利用数据访问模块将同步打包后的数据总线缓存到待调试芯片外部的存储器中。通过本发明的调试系统能够将待调试芯片中各调试节点的数据读取出来，方便后续对读取出来的数据进行分析，为判断待调试芯片中各调试模块是否正常运行提高可靠数据源，进而能够提高芯片流片的成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 功能 调试 系统 | ||
【主权项】：
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