[发明专利]一种利用CT测量光栅内部结构的方法在审

专利信息
申请号: 202210600830.2 申请日: 2022-05-30
公开(公告)号: CN114910493A 公开(公告)日: 2022-08-16
发明(设计)人: 宋晓燕 申请(专利权)人: 联访智能科技(无锡)有限公司
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 重庆百润洪知识产权代理有限公司 50219 代理人: 尹洪剑
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种利用CT测量光栅内部结构的方法,包括:将光敏材料制作成微胶囊并对微胶囊进行标定;将标定的微胶囊均匀混入被测光栅内部;通过CT设备扫描混有所述微胶囊的被测光栅内部,获取被测光栅内光敏材料的第一密度,所述微胶囊的外壳尺寸大于CT设备的最小分辨率;将第一密度与标定时微胶囊内光敏材料的第二密度进行对比,获得被测光栅内部的内部结构值;根据内部结构值,构建被测光栅的3D内部结构。本发明可以在不对光栅进行破坏的情况下测量光栅内部的结构,而且可以针对光栅内部结构的不同位置投入不同空间占比的微胶囊,从而提高内部结构测量的准确率。
搜索关键词: 一种 利用 ct 测量 光栅 内部结构 方法
【主权项】:
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