[发明专利]半导体装置在审
申请号: | 202210628825.2 | 申请日: | 2022-06-06 |
公开(公告)号: | CN115706149A | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
发明(设计)人: | 金奇奂;柳廷昊;李峭蒑;全勇昱;曺荣大 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/08 | 分类号: | H01L29/08;H01L29/10;H01L29/78 |
代理公司: | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人: | 杨帆;田野 |
地址: | 韩国京畿*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:有源图案,具有下部图案和在第一方向上与下部图案间隔开的片状图案;源/漏图案,在下部图案上,源/漏图案与片状图案接触;以及栅极结构,在源/漏图案的相对侧上,栅极结构沿第二方向彼此间隔开并且包括围绕片状图案的栅电极,其中,源/漏图案包括:第一外延区域,具有锑和铋中的至少一种,第一外延区域具有与下部图案接触但不与片状图案接触的底部,并且底部的厚度在第二方向上远离栅极结构增大然后减小;以及第二外延区域,在第一外延区域上,第二外延区域包括磷。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星电子株式会社,未经三星电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210628825.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于检测图像中的对象的方法和设备
- 下一篇:检查装置以及检查方法
- 同类专利
- 专利分类