[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 202210628825.2 申请日: 2022-06-06
公开(公告)号: CN115706149A 公开(公告)日: 2023-02-17
发明(设计)人: 金奇奂;柳廷昊;李峭蒑;全勇昱;曺荣大 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: H01L29/08 分类号: H01L29/08;H01L29/10;H01L29/78
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 代理人: 杨帆;田野
地址: 韩国京畿*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供了一种半导体装置。所述半导体装置包括:有源图案,具有下部图案和在第一方向上与下部图案间隔开的片状图案;源/漏图案,在下部图案上,源/漏图案与片状图案接触;以及栅极结构,在源/漏图案的相对侧上,栅极结构沿第二方向彼此间隔开并且包括围绕片状图案的栅电极,其中,源/漏图案包括:第一外延区域,具有锑和铋中的至少一种,第一外延区域具有与下部图案接触但不与片状图案接触的底部,并且底部的厚度在第二方向上远离栅极结构增大然后减小;以及第二外延区域,在第一外延区域上,第二外延区域包括磷。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
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