[发明专利]一种集成电路形式验证方法、系统及存储介质有效
| 申请号： | 202210657366.0 | 申请日： | 2022-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN114896921B | 公开（公告）日： | 2023-06-27 |
| 发明（设计）人： | 刘美华;白耿;金玉丰;苏宇 | 申请（专利权）人： | 深圳国微芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/3308 | 分类号： | G06F30/3308 |
| 代理公司： | 深圳市康弘知识产权代理有限公司 44247 | 代理人： | 张明院 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市前海深港合作区前*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种集成电路形式验证方法、系统及存储介质，所述方法包括：在实现设计中遍历两个主从结构的D‑latch；将实现设计中两个主从结构的D‑latch转换为DFF；采用转换得到的DFF与参考设计中的DFF进行比较点匹配。采用本发明的技术方案，可提高形式验证的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 形式 验证 方法 系统 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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