[发明专利]违约风险的校验方法及装置、电子设备、存储介质在审
申请号: | 202210675524.5 | 申请日: | 2022-06-15 |
公开(公告)号: | CN115018643A | 公开(公告)日: | 2022-09-06 |
发明(设计)人: | 叶芸彤;徐佩文 | 申请(专利权)人: | 中银金融科技有限公司 |
主分类号: | G06Q40/04 | 分类号: | G06Q40/04;G06Q10/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王云晓 |
地址: | 200120 上海市中国(上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本申请公开了一种违约风险的校验方法及装置、电子设备、存储介质,所述方法包括:获取用户上传的全量头寸信息;基于全量头寸信息确定各个目标参数;利用各笔净多头头寸的违约参数、各笔净空头头寸的违约参数、各个头寸分组的多头对冲比例和空头对冲比例计算各个头寸分组的风险资本;将各个头寸分组的风险资本以及各个头寸分组对应的违约风险值进行求和,得到总风险资本,再计算总风险资本与预设风险资本的差值;判断差值是否小于预设阈值;若判断出差值小于预设阈值,则确认预设风险资本通过校验。从而不再通过人工校验的方式,而是通过自动化的方式校验风险资本,进而可以有效地提高了校验违约风险的准确率。 | ||
搜索关键词: | 违约 风险 校验 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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