[发明专利]一种工业X射线成像参数自适应控制方法在审

专利信息
申请号: 202210738537.2 申请日: 2022-06-28
公开(公告)号: CN115128105A 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 张全红;王维 申请(专利权)人: 苏州一目万相科技有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人: 李猛
地址: 215488 江苏省苏州市太*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种工业X射线成像参数自适应控制方法,包括以下步骤:S01、根据系统成像动态范围,设定图像亮度目标B;S02、根据被检试件不同的材质M,建立被检试件的最佳成像质量的kV‑mA曲线,作为先验知识存储于成像系统;S03、对被检测试件进行X射线成像时,输入被检试件的材质M或近似材质,系统自动选择相应的kV‑mA曲线,自动确定合适的成像参数管电压kV、管电流mA和/或成像增益G,达到恒定的图像亮度B,进而获得最佳的图像质量。通过上述方式,本发明所述的工业X射线成像参数自适应控制方法,根据被检试件的材质,系统会自动确定合适的成像参数管电压、管电流和(或)成像增益,以获得最佳的图像质量,操作简便。
搜索关键词: 一种 工业 射线 成像 参数 自适应 控制 方法
【主权项】:
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