[发明专利]一种工业X射线成像参数自适应控制方法在审
申请号: | 202210738537.2 | 申请日: | 2022-06-28 |
公开(公告)号: | CN115128105A | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
发明(设计)人: | 张全红;王维 | 申请(专利权)人: | 苏州一目万相科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04 |
代理公司: | 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 | 代理人: | 李猛 |
地址: | 215488 江苏省苏州市太*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种工业X射线成像参数自适应控制方法,包括以下步骤:S01、根据系统成像动态范围,设定图像亮度目标B;S02、根据被检试件不同的材质M,建立被检试件的最佳成像质量的kV‑mA曲线,作为先验知识存储于成像系统;S03、对被检测试件进行X射线成像时,输入被检试件的材质M或近似材质,系统自动选择相应的kV‑mA曲线,自动确定合适的成像参数管电压kV、管电流mA和/或成像增益G,达到恒定的图像亮度B,进而获得最佳的图像质量。通过上述方式,本发明所述的工业X射线成像参数自适应控制方法,根据被检试件的材质,系统会自动确定合适的成像参数管电压、管电流和(或)成像增益,以获得最佳的图像质量,操作简便。 | ||
搜索关键词: | 一种 工业 射线 成像 参数 自适应 控制 方法 | ||
【主权项】:
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