[发明专利]半导体装置以及晶片在审

专利信息
申请号: 202210767134.0 申请日: 2022-06-30
公开(公告)号: CN115706078A 公开(公告)日: 2023-02-17
发明(设计)人: 菱田武司 申请(专利权)人: 住友电工光电子器件创新株式会社
主分类号: H01L23/498 分类号: H01L23/498
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 吕琳;朴秀玉
地址: 日本神奈*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 本公开涉及半导体装置以及晶片。本公开提供一种能小型化的半导体装置。半导体装置具备:基板(10);金属层,设于所述基板下;半导体元件,具备多个第一电极、多个第二电极以及第一焊盘,其中,所述多个第一电极设于所述基板上,经由贯通所述基板的贯通孔(20)分别与所述金属层连接,在所述基板上相互电隔离,所述多个第二电极设于所述基板上,与所述多个第一电极交替地设置,所述第一焊盘设于所述基板上,连接所述多个第二电极;以及保护膜,以覆盖所述多个第一电极和所述多个第二电极的方式设于所述基板上,具有使所述第一焊盘的至少一部分露出的第一开口,不具有与所述多个第一电极重叠的开口。
搜索关键词: 半导体 装置 以及 晶片
【主权项】:
暂无信息
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