[发明专利]一种半导体小型化封装结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 202210768037.3 申请日: 2022-07-01
公开(公告)号: CN114937650B 公开(公告)日: 2023-10-13
发明(设计)人: 张胜利;丁贺;高健;肖美健;罗志勇 申请(专利权)人: 今上半导体(信阳)有限公司
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L23/528;H01L23/31;H01L23/64;H01L21/768;H01L21/56
代理公司: 深圳众邦专利代理有限公司 44545 代理人: 丁曹凯
地址: 464000 河南省信阳*** 国省代码: 河南;41
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摘要: 发明公开了一种半导体小型化封装结构及其制备方法,包括覆盖在基板上表面的绝缘层I,包括第一介质层和第二介质层,第二介质层位于第一介质层和基板之间;覆盖在基板下表面的绝缘层II,包括第三介质层和第四介质层,第三介质层位于基板和第四介质层之间;设置在第二介质层和第三介质层中的无源器件;与无源器件对应的连接片,连接片位于第一介质层和第四介质层中;贯穿第二介质层、基板和第三介质层的连接柱,连接柱的至少一端通过连接片与对应的无源器件连接,连接柱的周围设有围绕孔;隔离件,隔离件设置在围绕孔中,且隔离件的厚度小于连接柱的侧壁到基板之间的距离的1/2,以形成空气隙。本发明减小了半导体的封装尺寸,提高了半导体的可靠性。
搜索关键词: 一种 半导体 小型化 封装 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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