[发明专利]半导体存储器件在审
申请号: | 202210811300.2 | 申请日: | 2022-07-11 |
公开(公告)号: | CN116266571A | 公开(公告)日: | 2023-06-20 |
发明(设计)人: | 青木健;和田政春;石坂守;稻场恒夫 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/50 | 分类号: | H01L23/50;H01L23/522;H01L23/528 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘静;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 实施方式的半导体存储器件具备存储单元阵列。存储单元阵列具备多个子阵列。子阵列具备多个存储部、与多个存储部电连接的多个第1半导体层、分别与多个第1半导体层相对向的多个第1栅电极、与多个第1半导体层电连接的第1布线、与多个第1栅电极连接的多条第2布线、与多条第2布线的第1端部电连接的多个第2半导体层、与多个第2半导体层相对向的多个第2栅电极以及与多个第2半导体层电连接的第3布线。存储单元阵列具备跨多个子阵列而在一个方向上延伸、与多个第2栅电极连接的多条第4布线。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于铠侠股份有限公司,未经铠侠股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202210811300.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:曝光装置、接合装置及半导体装置的制造方法
- 下一篇:存储器元件及其制备方法