[发明专利]低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置有效
| 申请号： | 202210850473.5 | 申请日： | 2022-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN114924109B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 邱文才;林满院;田学红;王祥仁;刘启昌;宋晓琴 | 申请（专利权）人： | 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/00 | 分类号： | G01R19/00;G01R19/32 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 张娈 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种低功耗芯片电流的测试方法、电路及其装置，其中，低功耗芯片电流的测试方法包括：将测试电阻连接于芯片测试回路中，并获取芯片的测试环境温度以及测试电阻在芯片测试回路中的端电压；确定与测试环境温度对应的补偿电压值，并根据补偿电压值对测试电阻的端电压进行电压补偿；获取测试电阻的电阻值，并根据测试电阻的电阻值和电压补偿后的端电压，确定芯片在测试环境温度下的工作电流。本发明技术方案可解决环境温度对于低功耗芯片工作电流测试的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 功耗 芯片 电流 测试 方法 电路 及其 装置 | ||
【主权项】：
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