[发明专利]基于固态硬盘主控芯片的闪存测试方法、装置及固态硬盘有效
| 申请号： | 202210902079.1 | 申请日： | 2022-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN114974387B | 公开（公告）日： | 2022-11-01 |
| 发明（设计）人： | 谢元禄;霍长兴;习凯;季兰龙;张坤;呼红阳;卢年端 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G06F11/263;G11C29/18 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了基于固态硬盘主控芯片的闪存测试方法、装置及固态硬盘，所述固态硬盘主控芯片包括快闪存储器阵列，所述方法包括：从快闪存储器阵列的目标块中读取数据；将读取的数据与预存到目标块的数据进行比较，得到错误信息，错误信息包括错误数据以及错误地址；根据错误信息确定目标块的比特错误率；根据比特错误率，确定出快闪存储器阵列中的坏块。该方法能通过闪存电路内部自动的写、读、回读比对流程，得到全片擦除后的快闪存储器阵列内的错误信息，进而确定出快闪存储器阵列中的坏块。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 固态 硬盘 主控 芯片 闪存 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
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