[发明专利]基于SOI工艺的带隙基准电路有效

专利信息
申请号: 202210916012.3 申请日: 2022-08-01
公开(公告)号: CN114967819B 公开(公告)日: 2022-10-25
发明(设计)人: 项勇;陈浪;戈泽宇;刘辉;唐玖虎;汪智斌 申请(专利权)人: 苏州悉芯射频微电子有限公司
主分类号: G05F1/567 分类号: G05F1/567
代理公司: 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙) 11357 代理人: 邢彬
地址: 215000 江苏省苏州市昆山开发区庆*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种基于SOI工艺的带隙基准电路,采用带隙基准核心电路和驱动增强电路构成,带隙基准核心电路包括负反馈支路与正反馈支路。由此,可基于温度补偿技术,利用横向正偏二极管结电压之差的正温度特性,并且作用在电阻R2上产生对数特性的正温度系数电流,再通过高精度电流镜像电路,在电阻R3上产生正温度系数电压,并抵消横向正偏二极管结电压的负温度系数,实现了高精度温度补偿。采用源极驱动的方式进行电压输出,极大地提高基准电压的负载驱动能力。可复用带隙基准核心电路产生的偏置电流,以节省额外的电流消耗,从而实现低功耗。
搜索关键词: 基于 soi 工艺 基准 电路
【主权项】:
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