[发明专利]一种存储芯片的测试方法及系统有效
| 申请号： | 202210924300.3 | 申请日： | 2022-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN114999558B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 祝欣 | 申请（专利权）人： | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/42 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 王积毅 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片的测试方法及系统，所述测试方法至少包括以下步骤：提供一待测芯片，并在所述待测芯片内配置测试单元；通过所述测试单元对所述待测芯片进行读写预测试，获得所述待测芯片在写入多种数据后的存储信息，并将所述待测芯片在写入多种数据后的存储信息作为对照表信息；测试所述待测芯片在未写入信息时和写入预设信息时的奇偶校验信息；以及对比所述奇偶校验信息和所述对照表信息，当所述奇偶校验信息不符合所述对照表信息，将所述待测芯片作为废片处理。本发明提供了一种存储芯片的测试方法及系统，可以快速、低消耗地检测出缺陷芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 芯片 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
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