[发明专利]一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质有效
| 申请号： | 202210924318.3 | 申请日： | 2022-08-03 |
| 公开（公告）号： | CN114999559B | 公开（公告）日： | 2022-11-29 |
| 发明（设计）人： | 祝欣 | 申请（专利权）人： | 合肥康芯威存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/40;G11C29/42 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人： | 王积毅 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储芯片的测试方法，至少包括以下步骤：提供一待测芯片，并在待测芯片上配置测试单元；获取待测芯片在写入预设信息和不写入预设信息时的存储信息，并将存储信息设置为对照表信息；向待测芯片写入预设信息，测试单元根据待测芯片的器件地址信息，依次读取待测芯片的存储数据；根据器件地址信息，依次压缩存储数据，获得校验信息；以及压缩对照表信息，并对比校验信息和压缩后的对照表信息，当校验信息与压缩后的对照表信息不同时，将待测芯片作为废片处理。本发明提供了一种存储芯片的测试方法、系统及存储介质，能够低成本且高效率地检测出缺陷芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 存储 芯片 测试 方法 系统 介质 | ||
【主权项】：
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