[发明专利]射频器件测试装置和测试系统在审
| 申请号： | 202210952245.9 | 申请日： | 2022-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN115372665A | 公开（公告）日： | 2022-11-22 |
| 发明（设计）人： | 邵伟恒;朱春龙;黄钦文;陈义强 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/00 |
| 代理公司： | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 邓丹 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种射频器件测试装置和测试系统，包括电路板、传输线和同轴接头，同轴接头包括第一同轴接头和第二同轴接头，第一同轴接头和第二同轴接头分别焊接在电路板两端，且均用于连接矢量网络分析仪；传输线包括第一传输线和第二传输线，第一传输线一端连接第一同轴接头，另一端连接待测射频器件，第二传输线一端连接第二同轴接头，另一端连接待测射频器件，电路板为陶瓷电路板。可以实现高低温情况下对射频器件的可靠性测试。 | ||
| 搜索关键词： | 射频 器件 测试 装置 系统 | ||
【主权项】：
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