[发明专利]存储器装置的裸片上交叉温度管理在审
| 申请号： | 202211046231.7 | 申请日： | 2022-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN115731971A | 公开（公告）日： | 2023-03-03 |
| 发明（设计）人： | K·K·姆奇尔拉;V·莫斯基亚诺;合田晃;J·S·麦克尼尔;辉俊胜;S·帕塔萨拉蒂;J·菲兹帕特里克;P·R·哈亚特 | 申请（专利权）人： | 美光科技公司 |
| 主分类号： | G11C5/14 | 分类号： | G11C5/14;G11C16/12;G11C16/30;G11C16/34;G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 任超 |
| 地址： | 美国爱*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本申请涉及存储器装置的裸片上交叉温度管理。存储器装置中的控制逻辑接收从存储器装置的存储器阵列读取数据的请求，所述请求包括其中存储所述数据的所述存储器阵列的段的指示，且确定与所述数据相关联的写入温度是否存储在对应于所述存储器阵列的所述段的标志字节中。响应于确定与所述数据相关联的所述写入温度存储于所述标志字节中，所述控制逻辑基于所述写入温度和在接收到读取所述数据的所述请求时的读取温度来确定所述数据的交叉温度，确定与所述存储器阵列的所述段相关联的编程/擦除循环计数，且基于所述交叉温度和所述编程/擦除循环计数来确定是否执行校正动作以校准待施加于所述存储器阵列以从所述段读取所述数据的读取电压电平。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 装置 裸片上 交叉 温度 管理 | ||
【主权项】：
暂无信息
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