[发明专利]一种采用ICP-OES快速测定高硅铝合金中Si元素含量的方法在审

专利信息
申请号: 202211110709.8 申请日: 2022-09-13
公开(公告)号: CN115326787A 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 龙开琳;何美琪;黄毅;刘风坤;崔博文;罗忠琴;陈志豪;杨志强 申请(专利权)人: 贵阳职业技术学院
主分类号: G01N21/73 分类号: G01N21/73
代理公司: 贵州启辰知识产权代理有限公司 52108 代理人: 赵彦栋
地址: 550081 *** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 发明公开了一种采用ICP‑OES精确测定高硅铝合金中Si元素含量的方法,其包括以下步骤:A、采用简化式碱法快速消解试样,获得待测试样溶液;B、采用简化式碱法快速消解标准试样块粉末,获得系列标准溶液;C、将系列标准溶液引入ICP‑OES设备中,根据标准溶液设定ICP‑OES设备的最佳参数,选定2‑5个检测对应Si元素的波长,测定系列标准溶液中Si元素的强度,得到系列标准溶液曲线;D、查看标准曲线数据,根据光强度和浓度的关系计算机自动给出实测获得的已知标准溶液中Si含量数据;E、判定按步骤C的方法开始测定待测的试样溶液,本发明通过对现有ICP‑OES技术测定铝及铝合金中Si元素含量的方法进行改进,提出了新的快速消解试样方法,使ICP‑OES测试结果的准确度更高、稳定性更好。
搜索关键词: 一种 采用 icp oes 快速 测定 铝合金 si 元素 含量 方法
【主权项】:
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