[发明专利]电路板卡的老化测试装置及方法在审
| 申请号： | 202211160320.4 | 申请日： | 2022-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN115575795A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 蒋磊;冯雪;何进松;徐沧;杨颖;苏亚南;李灵燚 | 申请（专利权）人： | 国核自仪系统工程有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海弼兴律师事务所 31283 | 代理人： | 罗朗;林嵩 |
| 地址： | 200241 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路板卡的老化测试装置及方法。该老化测试装置包括控制器、分别与所述控制器通信连接的老化处理模块、参数监控模块和散热模块，老化处理模块与电路板卡电连接；老化处理模块用于根据控制器配置的设定功率参数提供电路板卡信号激励；参数监控模块用于获取电路板卡的实际工作参数，实际工作参数包括电路板卡的实际工作温度并发送至控制器；控制器用于在实际工作温度超出设定温度范围时，控制老化处理模块和/或散热模块的工作状态，直至将电路板卡的实际工作温度调节至设定温度范围内。本发明为板卡提供信号激励和测试环境，实现电路板卡的带电老化试验，并通过得到多样化的参数数据，实现对电路板卡老化的精准测试。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 板卡 老化 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
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