[发明专利]显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质在审
申请号: | 202211160511.0 | 申请日: | 2022-09-22 |
公开(公告)号: | CN115578956A | 公开(公告)日: | 2023-01-06 |
发明(设计)人: | 林代翔 | 申请(专利权)人: | 乐金显示光电科技(中国)有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 杨义 |
地址: | 510530 广东省广州市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开一种显示面板不良像素点的检测方法、装置、设备和介质。该显示面板不良像素点的检测方法包括:获取待测像素点的位置信息;基于待测像素点的位置信息确定待测像素点是否为边沿像素点;若是,基于待测像素点的位置信息确定待测像素点的相邻像素点和增加像素点,获取相邻像素点、增加像素点和待测像素点的亮度,将相邻像素点和增加像素点的亮度与待测像素点的亮度进行对比以确定待测像素点是否为不良像素点;其中,相邻像素点和增加像素点的数量之和不少于4个。通过采用上述方案,解决了现有的不良像素点的检测方法准确性较差的问题,增加了检查的准确性和可靠性。 | ||
搜索关键词: | 显示 面板 不良 像素 检测 方法 装置 设备 介质 | ||
【主权项】:
暂无信息
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