[发明专利]一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置在审
| 申请号： | 202211170456.3 | 申请日： | 2022-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN115509387A | 公开（公告）日： | 2022-12-23 |
| 发明（设计）人： | 闫俊超;张喆尧 | 申请（专利权）人： | 北京奕斯伟计算技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 张润 |
| 地址： | 101102 北京市大兴区北京经*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提出一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置，属于触控技术领域。其中，该获取触摸轨迹凹凸特征的方法包括：在对触摸轨迹跟踪的过程中，获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点；根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点，对当前轨迹区间的凹凸性进行识别；根据当前轨迹区间的凹凸性，对所跟踪轨迹的凹凸特征信息进行更新。本申请通过历史触摸点和当前触摸点，可以识别当前轨迹区间的凹凸性，也就是实现了对触摸轨迹的分段式凹凸性识别，进而有利于提出触摸轨迹的凹凸特征，丰富了特征信息的种类，有利于提高后续轨迹预测或者轨迹分类的精准性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 获取 触摸 轨迹 凹凸 特征 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
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