[发明专利]测试电路和测试方法在审
| 申请号： | 202211170703.X | 申请日： | 2022-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN116008759A | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 吉田满 | 申请（专利权）人： | 富士电机株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 俞丹;宋俊寅 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测试电路，能够适当地评估开关元件。开关元件的测试电路包括：输入用于导通关断所述开关元件的驱动信号的第一端子；连接到所述开关元件的接地侧电极的第二端子；连接到所述开关元件的控制电极的第三端子；连接到所述开关元件的电源侧电极的第四端子；以及连接到所述第二端子和所述第四端子之间的钳位电路，当基于所述驱动信号导通所述开关元件时，所述钳位电路将所述第三端子的电压设为高于所述开关元件的阈值的第一电压，并且当基于所述驱动信号关断所述开关元件时，将所述第四端子的电压钳位为低于所述开关元件的耐压的第二电压，同时将所述第三端子的电压设定为在所述阈值和所述第一电压之间的第三电压。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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