[发明专利]用于芯片冲击实验的测试系统在审
| 申请号： | 202211180770.X | 申请日： | 2022-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN115655931A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 王松 | 申请（专利权）人： | 南京韵晨信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/31 | 分类号： | G01N3/31;G01N3/34;G01N3/04;G01N3/02;B65G49/07 |
| 代理公司： | 苏州拓鸿知识产权代理有限公司 32664 | 代理人： | 左勇 |
| 地址： | 210000 江苏省南京市雨花台*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了用于芯片冲击实验的测试系统，包括传送装置、三维驱动组件、多模式冲击组件以及承载板，其中，所述传送装置能够间隔传送承载板，所述承载板上阵列分布有多个待测试的芯片，所述传送装置的上方采用支架固定有所述三维驱动组件，所述三维驱动组件设有三维驱动端，所述三维驱动端与所述多模式冲击组件相连，所述多模式冲击组件能够对承载板上的部分芯片进行多模式冲击测试或单模式冲击测试。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 芯片 冲击 实验 测试 系统 | ||
【主权项】：
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