[发明专利]一种用于轴孔拂配检测方法在审

专利信息
申请号: 202211200516.1 申请日: 2022-09-29
公开(公告)号: CN115682887A 公开(公告)日: 2023-02-03
发明(设计)人: 张治军;盛健 申请(专利权)人: 沪东中华造船(集团)有限公司
主分类号: G01B5/28 分类号: G01B5/28;G01B5/30;G01B5/12;B24B23/00;B24D15/02
代理公司: 上海智力专利商标事务所(普通合伙) 31105 代理人: 周涛
地址: 200129 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种用于轴孔拂配检测方法,该方法通过使用轴孔拂配检测装置对轴孔进行拂配检测,使轴孔拂配检测装置中的拂磨环在轴孔内做往复运动,使轴孔内不符合尺寸的轴孔内壁区域变为反光亮点,并对反光亮点进行打磨,完成轴孔拂配检测工作。本发明通过使用轴孔拂配检测装置检测轴孔形位公差变形值,同时检测轴孔内壁光洁度,并对不符合要求的轴孔区域进行打磨,避免了轴安装在轴孔出现卡滞或过度磨损的问题,提高了轴的使用寿命。
搜索关键词: 一种 用于 轴孔拂配 检测 方法
【主权项】:
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