[发明专利]光学系统高精度快速追迹方法在审

专利信息
申请号: 202211212838.8 申请日: 2022-09-30
公开(公告)号: CN115601491A 公开(公告)日: 2023-01-13
发明(设计)人: 闫磊;张新;胡铭钰;刘铭鑫 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G06T15/06 分类号: G06T15/06;G06T17/20;G06F17/11
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 郭婷
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明提供一种光学系统高精度快速追迹方法,包括以下步骤:S1、通过光学面形矢高方程和机械元件表面NURBS表征函数分别对光学和机械表面分别进行离散采样,生成初始化的三角面元网格;S2、对三角面元网格进行空间分割,采用基于表面积启发式的空间树结构构造三角面元包围体,剔除不相交面元,得到有交点的三角面元;S3、对有交点的三角面元进行细化,通过求取交点和矢高方程对应点距离d,最终得到用于数值求解的迭代初值;S4、根据迭代初值构造光学面形矢高方程单变量隐函数表征函数,对于高次非线性方程结合牛顿或拟牛顿迭代法求得光线和几何相交的精确解。本发明通过将光学面形矢高方程构造成单变量隐函数表征,实现了快速、高精度追迹。
搜索关键词: 光学系统 高精度 快速 方法
【主权项】:
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