[发明专利]一种近场电场定量测量方法及装置、电子设备和存储介质在审
| 申请号： | 202211254462.7 | 申请日： | 2022-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN115575729A | 公开（公告）日： | 2023-01-06 |
| 发明（设计）人： | 张政军;樊易航;王炜鹏 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01R29/12 | 分类号： | G01R29/12 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开涉及一种近场电场定量测量方法及装置、电子设备和存储介质。所述方法，包括：获取第一入射电场和第一近场电场之间的第一线性关系；获取扫描近场光学显微镜的仪器常数；根据仪器常数和第一线性关系，得到待测样品上任一待测点的第一线性系数；根据入射到待测样品的实际入射电场和所述待测点的第一线性系数，得到所述实际入射电场下所述待测点的重构近场电场，作为所述待测点的近场电场定量测量结果。该过程将体现待测样品第一测量区域的入射电场和近场电场关系的第一线性关系，与体现针尖‑样品耦合对待测样品表面的近场电场的影响的仪器常数结合，实现了待测样品表面的近场电场的重构，提高了待测样品表面的近场电场的定量测量的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 近场 电场 定量 测量方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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