[发明专利]一种氧化铈纳米颗粒的合成方法及其应用于浅沟槽隔离的化学机械抛光的组合物在审

专利信息
申请号: 202211277840.3 申请日: 2022-10-19
公开(公告)号: CN116654971A 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: 巩强;雒玉欣;许宁;张建 申请(专利权)人: 意芯微电子材料(南通)有限公司
主分类号: C01F17/235 分类号: C01F17/235;C01F17/10;C09G1/02;B82Y40/00
代理公司: 南通鼎点知识产权代理事务所(普通合伙) 32442 代理人: 葛永新
地址: 226000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种氧化铈纳米颗粒的合成方法及其应用于浅沟槽隔离(STI)的化学机械抛光(CMP)的组合物,所述组合物包括:氧化铈纳米颗粒、有机添加剂及超纯水。本发明公开的CeO2纳米颗粒的合成方法是首先通过沉淀法制备前驱体,然后用熔盐法进行焙烧处理直接获得纳米级颗粒。该方法的合成温度低,不需研磨可直接获得纳米颗粒,颗粒在水溶液中具有良好的分散性。基于此方法的CeO2纳米颗粒配制的应用于浅沟槽隔离(STI)的化学机械抛光(CMP)的组合物性能优异,具有非常重要的现实意义。
搜索关键词: 一种 氧化 纳米 颗粒 合成 方法 及其 应用于 沟槽 隔离 化学 机械抛光 组合
【主权项】:
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