[发明专利]三维测量设备检查量规、三维测量设备及其检查方法在审
| 申请号： | 202211300012.7 | 申请日： | 2022-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN116067328A | 公开（公告）日： | 2023-05-05 |
| 发明（设计）人： | 井上友人;奈良正之 | 申请（专利权）人： | 株式会社三丰 |
| 主分类号： | G01B21/20 | 分类号： | G01B21/20;G01B21/16 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及三维测量设备检查量规、三维测量设备及其检查方法。一种三维测量设备检查量规(50)，包括：多个被测量对象(T1‑T6)，三维测量设备(1)的探针(25)的尖端与所述多个被测量对象(T1‑T6)接触；以及支撑所述多个对象的框架构件(51)。多个对象被布置在与三棱柱的各个顶点相对应的位置中。 | ||
| 搜索关键词： | 三维 测量 设备 检查 量规 及其 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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