[发明专利]高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202211332965.1 申请日: 2022-10-28
公开(公告)号: CN115479545A 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 时伟生;屈国超;金鳞;蒋玉斌 申请(专利权)人: 博众精工科技股份有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人: 陈如建
地址: 215299 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种高度差的测量方法、装置、终端及可读存储介质,该测量方法包括:获取所述外表面的点云数据,从所述点云数据中匹配出平面区域A对应的多个第一点、以及平面区域B对应的多个第二点;基于至少三个第一点拟合出第一平面α,生成若干第二点与第一平面α之间的距离的均值D1;基于至少三个第二点拟合出第二平面β,生成若干第一点与第二平面β之间的距离的均值D2;平面区域A和B在预设平面的垂线上的高度差为(D1+D2)/2。从而能够测量平面区域A和B之间的距离。
搜索关键词: 高度 测量方法 装置 终端 可读 存储 介质
【主权项】:
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