[发明专利]一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法在审
申请号: | 202211338697.4 | 申请日: | 2022-10-28 |
公开(公告)号: | CN115791502A | 公开(公告)日: | 2023-03-14 |
发明(设计)人: | 管家辉;杨振华;杨阳 | 申请(专利权)人: | 无锡上机数控股份有限公司 |
主分类号: | G01N5/04 | 分类号: | G01N5/04;G01N1/10 |
代理公司: | 北京睿博行远知识产权代理有限公司 11297 | 代理人: | 张燕平 |
地址: | 214000 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法,属于碳化硅领域,一种碳化硅微粉粒度水分含量检测方法,包括有以下步骤:S1、碳化硅微粉取样,在碳化硅微粉中均匀设置多个取样点进行取样,并将取出的样品进行混合重新分配,形成微粉基础样品,并对其重量进行记录;S2、粒度筛分,利用不同的粒度筛分别对多个微粉基础样品进行粒度筛分,形成粒度一样品、粒度二样品和粒度三样品,并计算各粒度的均匀占比值;S3、取样称重,分别对上述步骤中的多个粒度一样品、多个粒度二样品和多个粒度三样品进行堆积取样;S4、干燥处理;S5、粒度水分计算,它可以实现,能够准确的对碳化硅微粉粒度水分含量进行检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 碳化硅 粒度 水分 含量 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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