[发明专利]一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211379500.1 | 申请日： | 2022-11-04 |
| 公开（公告）号： | CN115690447A | 公开（公告）日： | 2023-02-03 |
| 发明（设计）人： | 郭斌;李晓波;姜东民 | 申请（专利权）人： | 北京远舢智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/44 | 分类号： | G06V10/44;G06V10/82;G06N3/04;G06N3/08 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 刘攀 |
| 地址： | 101400 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供了一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：采用目标检测模型识别底片的像质计编号、所述像质计编号的位置信息和底片焊缝的位置信息；根据所述像质计编号的位置信息，确定目标检测区的第一边缘位置；根据所述底片焊缝的位置信息，确定所述目标检测区的第二边缘位置；所述目标检测区是由所述第一边缘位置和所述第二边缘位置组成的矩形区域；根据所述目标检测区中每行像素点的像素平均值，确定可见丝的数量；根据所述像质计编号和所述可见丝的数量，确定所述可见丝中最细可见丝的编号。本申请能够提高像质计上最细可见丝的编号的检测效率，同时减少人工劳动时间成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 像质计 检测 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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