[发明专利]测试设备、校准方法、装置、芯片测试方法和存储介质在审
| 申请号： | 202211412542.0 | 申请日： | 2022-11-11 |
| 公开（公告）号： | CN115856745A | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 李德建;刘洋;冯曦;关媛;李博夫;李大猛 | 申请（专利权）人： | 北京智芯微电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00;G01R31/28;G01R19/10;G01R19/165 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 季永杰 |
| 地址： | 100192 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种自动测试设备、校准方法、装置、芯片测试方法和存储介质，其中，自动测试设备包括电源通道和测量通道，且自动测试设备与测量设备连接，该自动测试设备的校准方法首先利用测量设备对自动测试设备的电源通道进行校准，然后控制电源通道产生校准后的电压标准值，再利用测量通道和测量设备对该电压标准值进行测量，以得到两个电压测量值，然后将两个电压测量值的差作为测量通道的补偿值，以对测量通道的实际测量值进行补偿校准。由此，该实施例中自动测试设备的校准方法能够提高自动测试设备的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 设备 校准 方法 装置 芯片 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京智芯微电子科技有限公司，未经北京智芯微电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211412542.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：混流器
- 下一篇：手柄保护方法、装置、手柄控制器、手柄及介质
