[发明专利]一种测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202211432546.5 | 申请日： | 2022-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN115576765B | 公开（公告）日： | 2023-03-28 |
| 发明（设计）人： | 杨笑;刘克彬 | 申请（专利权）人： | 南京芯驰半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 周伟 |
| 地址： | 211899 江苏省南京市江北新区研创园团结路*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种测试方法、装置、电子设备及存储介质，响应于测试模式为集线器（HUB）模式，则基于待测HUB的供应商识别码（VID）和/或产品识别码（PID），从系统级芯片（SOC）上连接的至少两个HUB中确认待测HUB；基于待测HUB对应的端口号确认所述集线器HUB模式对应的子模式；基于所述子模式，对所述待测HUB进行测试，可以在车机场景中，多个HUB与SOC直连情况下，获得SOC经过HUB下行端口的信号质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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