[发明专利]芯片参数自适应查找修调方法及装置在审
| 申请号： | 202211462756.9 | 申请日： | 2022-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN116126605A | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 白世发;谢凯;卢旭坤;袁俊;齐聪博;张亦锋 | 申请（专利权）人： | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;H01L21/66 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 刘光明 |
| 地址： | 523000 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种芯片参数自适应查找修调方法及装置，其中芯片参数自适应查找修调方法为利用测试得到初始值和最大修调值并结合目标修调值以第一公式计算得到自适应数值，转换自适应数值为自适应修调码并输入芯片以测试得到自适应修调值，确定自适应修调值是否处于预设范围；不处于预设范围，则以第二公式或第三公式重新计算自适应数值；处于所述预设范围，则将对应的自适应修调码作为选定修调码。本发明根据目标修调值与初始值的差值在最大修调值与初始值的差值所占比例来自适应预估修调码，能够改善二分法每次只能对半查找修调值的局限性，进而实现快速地查找得到芯片的选定修调码，有效地减少了修调时间，提高芯片参数的修调效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 参数 自适应 查找 方法 装置 | ||
【主权项】：
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