[发明专利]一种基于FPGA实现的PROM可靠性测试系统在审
| 申请号： | 202211484107.9 | 申请日： | 2022-11-24 |
| 公开（公告）号： | CN115877190A | 公开（公告）日： | 2023-03-31 |
| 发明（设计）人： | 谢小东;王佳辉;陈嘉豪 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/3185 | 分类号： | G01R31/3185;G01R1/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明旨在为PROM的循环读写测试提供一种快速可靠的测试系统测试方案，具体涉及一种基于FPGA实现的PROM可靠性测试系统。本发明改变了传统测试系统的上位机下位机分工，具体来说，循环读写测试中多次测试产生的结果的统计处理比如计算单Bit错误在全部错误中的占比，这些工作全部在下位机完成，最终FPGA只向上位机发送最后的测试结果，通过这种方案大幅减少上位机下位机间的通信数据量，提高了整个测试系统的运行速度；并且在测试板PCB设计方面，提出将PROM插座和测试板底座分离连接，以提高该测试系统对不同测试项目的适应能力。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 fpga 实现 prom 可靠性 测试 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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