[发明专利]一种N型硅片的吸杂方法在审
申请号: | 202211508712.5 | 申请日: | 2022-11-29 |
公开(公告)号: | CN115775845A | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 安艳龙;王步峰;王强;陈斌 | 申请(专利权)人: | 尚义县荣登新能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 076750 河北省张家口市*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 一种N型硅片的吸杂方法,对化学清洗及抛光后的硅片机体在700‑850°高温下退火炉内进行退火吸杂,退火吸杂过程中将氧气通入退火炉内,在氧气进入退火炉之前,氧气在低温纯水瓶内水浴通过,使氧气携带水蒸气进入退火炉内进行氧化反应;随后往退火炉内通入氮气,氮气进入退火炉之前,氮气在20℃恒温三氯氧磷恒温瓶内通过,使氮气携带三氯氧磷进入退火炉内,其通过对硅片机体进行高温退火处理,有效防止沉积金属离子杂质到硅片内部形成缺陷,改善N型硅片的质量,使得电池的转换效率更集中,综合效率提升可超过0.2%。 | ||
搜索关键词: | 一种 硅片 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的