[发明专利]一种非接触卡快速调试的方法在审
| 申请号： | 202211517578.5 | 申请日： | 2022-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN115719074A | 公开（公告）日： | 2023-02-28 |
| 发明（设计）人： | 刘彬;殷木省;刘可 | 申请（专利权）人： | 艾体威尔电子技术（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/10 | 分类号： | G06K7/10 |
| 代理公司： | 北京市盛峰律师事务所 11337 | 代理人： | 洪丽 |
| 地址： | 100195 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种非接触卡快速调试的方法，该方法采用主处理芯片调试非接触卡，其中所述主处理芯片内的代码结构层次包括：AP I层、数据传输层，国际卡协议层和硬件驱动层I，所述非接触卡包括硬件驱动层I I，将非接触卡中通用的国际卡协议层通过软件代码便携固化在主处理芯片(CPU)中，使得在进行非接触卡功能调试时，不再需要进行繁琐的代码修改，只需要修改CPU中的硬件驱动层和非接触卡中的硬件驱动层，使得指令和格式相同，即可实现调试指令的传输，极大地减少了代码修改工作量，提高了非接触卡调试效率，更全面、高效、兼容各种不同的非接触卡芯片。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 接触 快速 调试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于艾体威尔电子技术（北京）有限公司，未经艾体威尔电子技术（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202211517578.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
