[发明专利]一种芯片测试系统及测试方法在审
| 申请号： | 202211649504.7 | 申请日： | 2022-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN115932549A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 张公健 | 申请（专利权）人： | 昆腾微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 方晓燕 |
| 地址： | 100000 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试系统及测试方法，涉及芯片测试的技术领域。其中，芯片测试系统包括：上位机模块、测试模块、主控模块，通过接收上位机模块发送的测试信号，再根据测试信号对被测芯片的待测状态进行配置，再对所述被测芯片进行测试，最后采集所述被测芯片的测试数据后发送至所述上位机模块以生成测试结果，以实现芯片测试，相比现有技术，本申请具有全自动化、操作简单、效率高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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