[发明专利]电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211654195.2 | 申请日： | 2022-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN115932449A | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 徐家成;杨志锋;刘晓;付成涛;赵会栋;王怀堂;毕浩;程先锋 | 申请（专利权）人： | 联宝（合肥）电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01K13/00;G01R21/00 |
| 代理公司： | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人： | 郑久兴 |
| 地址： | 230601 安徽省合肥市经济技*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种电子产品的性能测试方法、装置、设备及存储介质，通过在待测机台经过功耗测试结束后，获取所述待测机台的实际功耗均值；根据所述待测机台的机型功耗设计值和所述实际功耗均值，判断所述待测机台是否满足最优合格条件；若所述待测机台不满足所述最优合格条件，则根据所述待测机台是否触发所述待测机台内控制芯片和/或显示芯片的温度墙，以及获取所述待测机台在所述功耗测试过程中的环温均值，判断所述待测机台是否满足合格条件，不仅能够实现智能检测控制、操作便捷，还能够有效的降低电子产品性能检测的误判率，避免人力与资金的浪费。 | ||
| 搜索关键词： | 电子产品 性能 测试 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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