[发明专利]芯片测试装置在审
| 申请号： | 202211687200.X | 申请日： | 2022-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN116027173A | 公开（公告）日： | 2023-04-28 |
| 发明（设计）人： | 杨柳;周福鸣;和巍巍 | 申请（专利权）人： | 深圳基本半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 44311 | 代理人： | 曾昭毅 |
| 地址： | 518118 广东省深圳市坪山区坑梓街道办*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提出一种芯片测试装置，包括底板、第一绝缘件、第二绝缘件、第一端子和第二端子。第一绝缘件和第二绝缘件可滑动地设置于底板上，第一端子与第一绝缘件可滑动地连接，第二端子与第二绝缘件可滑动地连接。本申请所述芯片测试装置结构简单、组装方便，绝缘件可循环多次重复利用，成本较低。另外，本申请所述芯片测试装置与测试电路兼容性好，使用便捷，测试成本低，适用于实验室等多种不同测试场景。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
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