[发明专利]一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统在审
| 申请号： | 202211734403.X | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN116223906A | 公开（公告）日： | 2023-06-06 |
| 发明（设计）人： | 邓宏民;许家群;彭英铭 | 申请（专利权）人： | 广东惠伦晶体科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 广东新叶知识产权代理事务所(普通合伙) 44799 | 代理人： | 王明超 |
| 地址： | 523000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明属于晶体振荡器技术领域，尤其涉及一种可频率校准的温补晶振测试方法、电路及系统，包括：测试板模块，所述测试板模块用于连接待测试温补晶振，读取待测试温补晶振的频率信号；温度补偿参数计算模块，所述温度补偿参数计算模块用于根据读取的温补晶振的频率信号，计算温补晶振的偏移频率，判断该温补晶振的偏移频率是否处于预设偏移频率的范围内，若是，则不需要频率校准；若否，则返还温度补偿参数值，重新计算待测试温补晶振的频率信号；对温补晶振的频率进行校准处理，从而将该修正后的温度补偿参数重写写入至温补晶振的芯片内，有效防止温补晶振在回流焊工序后出现频率漂移无法处理的现象，提高温补晶振产品的生产良率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 频率 校准 温补晶振 测试 方法 电路 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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