[发明专利]缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在审
| 申请号： | 202211741907.4 | 申请日： | 2022-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN115965608A | 公开（公告）日： | 2023-04-14 |
| 发明（设计）人： | 罗毅;徐霄;刘永华 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/62;G06V10/44;G06V10/28;G06V10/764;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 钟文聪;吴素花 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，其中，所述方法包括：获取待测显示装置的当前显示图像；其中，当前显示图像是由待测显示装置通过显示标准图形得到的；从当前显示图像中确定所述标准图形的显示边框；基于显示边框的几何特征，对待测显示装置进行缺陷检测，得到待测显示装置的检测结果；其中，检测结果包括待测显示装置是否存在缺陷，以及在检测到缺陷的情况下缺陷的位置信息；几何特征包括以下至少之一：显示边框的显示面积、显示边框的夹角、显示边框中端点的位置关系。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 检测 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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