[实用新型]芯片测试对接装置及芯片测试装置有效
| 申请号： | 202220131578.0 | 申请日： | 2022-01-18 |
| 公开（公告）号： | CN216771914U | 公开（公告）日： | 2022-06-17 |
| 发明（设计）人： | 邱磊 | 申请（专利权）人： | 合肥悦芯半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人： | 王丽莎 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市经济技术开*** | 国省代码： | 安徽;34 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种芯片测试对接装置及芯片测试装置，芯片测试对接装置包括：第一安装板，具有第一避让口和第二避让口；针卡，设置于第一安装板，针卡具有第一插接部；第二安装板，设置有第二插接部；定位锁紧组件，设置于第二安装板，定位锁紧组件具有限位部和可伸缩地设置于限位部的卡接部，限位部用于伸入第一避让口以对第一安装板限位，卡接部用于伸入第二避让口以将第一安装板固定于第二安装板。本申请的定位锁紧组件的限位部对第一安装板起到导向和限位作用，卡接部与第一安装板卡合，以将第一安装板快速、精准的定位于第二安装板，本申请的芯片测试对接装置结构简单、定位操作方便快速，有效提高测试装置的定位便捷性和定位效率。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 对接 装置 | ||
【主权项】：
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