[实用新型]一种芯片测试针清洁装置有效
| 申请号： | 202220246619.0 | 申请日： | 2022-01-29 |
| 公开（公告）号： | CN216802936U | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 吴俊;袁志伟 | 申请（专利权）人： | 珠海市中芯集成电路有限公司 |
| 主分类号： | B24B27/033 | 分类号： | B24B27/033;B24B41/04;B24B55/06;B24B47/12;B08B1/04;B08B5/02;B08B13/00 |
| 代理公司： | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人： | 曾俊杰 |
| 地址： | 519000 广东省珠海*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及半导体芯片检测设备技术领域，具体涉及一种芯片测试针清洁装置，包括：基座，基座上设置有至少一个安装位；清扫套筒，设置在安装位上，其内壁设置有环形毛刷；打磨头，设置有凹弧形磨槽，设置在清扫套筒的下端，连接有转动驱动源，转动驱动源用于驱使打磨头自转；本实用新型的清洁装置在基座上设置清扫套筒和打磨头，其中清扫套筒内设置环形毛刷用以清扫测试针侧表面的杂物，打磨头连接有转动驱动源且其上设置有凹弧形磨槽，通过转动驱动源驱使打磨头转动进而能够打磨测试针的针头部分，以将针头处的氧化物或氧化面磨去，保证针头与引脚或引线接触良好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 清洁 装置 | ||
【主权项】：
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