[实用新型]一种IC芯片测试分选机构有效
| 申请号： | 202220324225.2 | 申请日： | 2022-02-17 |
| 公开（公告）号： | CN217191025U | 公开（公告）日： | 2022-08-16 |
| 发明（设计）人： | 钟伟雄 | 申请（专利权）人： | 深圳市恒拓创芯科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B60B33/00 |
| 代理公司： | 深圳市国高专利代理事务所(普通合伙) 44731 | 代理人： | 陈冠豪 |
| 地址： | 518101 广东省深圳市宝安区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及芯片生产测试技术领域，涉及一种IC芯片测试分选机构。要点包括底板，所述底板的顶部固定连接于顶起机构，所述顶起机构的顶部固定连接有支撑座，所述支撑座的顶部转动连接有测试分选机主体，所述测试分选机主体的底部设置有驱动机构，所述驱动机构的底部与顶起机构固定连接。该实用新型通过底板对装置进行支撑，当需要调节测试分选机主体的高度时，只需要启动顶起机构带动支撑座和测试分选机主体垂直运动，实现高度调节，并且启动驱动机构可带动测试分选机主体水平转动，方便其进料口与产线对接，方便调节测试分选机主体的方位，从而实现了装置具备便于移动，并且方便调节高度和方位，适用性广的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 ic 芯片 测试 分选 机构 | ||
【主权项】：
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